航天科工二院物理特征分析技術(shù)獲國家發(fā)明專利

近日，中國航天科工集團公司二院201所失效分析研究室 “半導體器件物理特征分析方法”發(fā)明通過了國家專利局的最終審核，被授予國家發(fā)明專利，標志著201所在仿冒翻新元器件鑒別分析技術(shù)領(lǐng)域走在了行業(yè)前列，并掌握了核心技術(shù)的話語權(quán)。

“半導體器件物理特征分析方法”(即PFA)的形成源于失效分析研究室早在2008年即開始關(guān)注的進口半導體器件仿冒翻新問題。隨著電子和信息技術(shù)的快速發(fā)展，包括半導體器件在內(nèi)的電子元器件更新?lián)Q代周期變短，導致元器件用戶的供應鏈管理出現(xiàn)困難，即原設(shè)計使用的元器件可能已經(jīng)停產(chǎn)，特別是對元器件用量少、品種多、可靠性要求高的部件或整機廠家而言，由于采購量小且必須通過代理商進行采購，因此給仿冒翻新器件提供了進入產(chǎn)業(yè)鏈的機會。如進入軍品供應鏈，則將嚴重影響裝備的質(zhì)量與可靠性。因此，鑒別所購元器件特別是進口半導體器件是否為防冒翻新產(chǎn)品是軍品檢驗不可或缺的重要環(huán)節(jié)。

失效分析研究室經(jīng)過4年時間的檢測分析經(jīng)驗積累，利用2年(2012-2013年)時間對進口器件仿冒翻新識別技術(shù)進行了集中研發(fā)和攻關(guān)。2013年中旬轉(zhuǎn)化為實際技術(shù)成果，并首創(chuàng)了“半導體器件物理特征分析”(PFA)這一技術(shù)名詞，編寫了相應的標準，隨即進行了專利申請。2014年，PFA已正式成為二院型號進口元器件質(zhì)量保證流程中的最前道環(huán)節(jié)。

本次專利申請的獲批也有助于軍品元器件檢測分析技術(shù)向民品領(lǐng)域的拓展推廣，未來元器件物理特征分析技術(shù)有望涉足船舶、汽車、高鐵等高可靠工業(yè)電子領(lǐng)域，以及涉及元器件采購合同糾紛的司法鑒定領(lǐng)域。